检测范围

• 材料类型：钨钴类（YG系列）、钨钛钴类（YT系列）

• 产品形态：切削刀片、矿用钻头、密封环（检测区域≥30mm²）

检测标准与方法

（1）孔隙度评级（GB/T 3488.4）

• A类孔隙（≤10μm）：允许≤0.1%

• B类孔隙（10-25μm）：＞1个/视场即判废

• 方法：金相显微镜1000×观察（抛光粗糙度Ra≤0.02μm）

（2）WC晶粒尺寸测量（GB/T 3488.2）

• 分级标准：

  纳米级：＜0.2μm | 超细：0.2-0.5μm | 细：0.8-1.3μm  
  中晶：1.3-2.5μm | 粗晶：2.5-6.0μm | 超粗：＞6.0μm

• 设备：扫描电镜（SEM）+ 图像分析软件（精度±0.2μm）

（3）钴相分布均匀性

• 判定标准：背散射电子成像（SEM）下钴池尺寸＜3μm且无聚集

百检服务优势

• 技术覆盖：支持EBSD晶界取向分析，孔隙检出限达0.1μm

• 时效性：合作实验室加急服务48小时出具CMA报告

• 成本控制：孔隙+晶粒尺寸检测套餐180元/样（含三维重建图谱）