可靠性试验测试标准汇总一、能实施的环境可靠性试验项目【可靠性试验】：可靠性实验室(可靠性试验室)老练试验(老炼试验)、环境应力筛选试验、可靠性增长试验、可靠性验收试验可靠性鉴定试验(特定环境下的产品平均无故障时间MTBF)、寿命试验、耐久性试验可靠性强化试验、高加速寿命试验HALT、高加速环境应力筛选试验HASS综合应力试验：两综合试验(振动－温度、温度－湿度、振动-湿度)、三综合试验(振动－温度－湿度)、四综合试验(低气压－振动－温度－湿度、噪声－振动－温度－湿度)可靠性试验策划、大纲制定、试验方案设计系统可靠性分析与试验结果综合评估产品可靠性故障分析与诊断产品贮存可靠性分析【包装运输试验】包装试验(GB/T4857，GB6543，GB6544，QB/T1649)：碰撞、跌落、倾斜、翻倒等。1.气候环境试验(GB2423，GJB150，GB4208，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)1.1温度试验：高温试验、低温试验、温度变化、温度冲击(热冲击、温度骤变)、温度循环(温度渐变)试验等；1.2湿度试验：防潮试验(湿度试验、恒定湿热、交变湿热)；1.3腐蚀试验：盐雾试验：中性盐雾试验NSS/铜盐加速乙酸盐雾试验CASS/铜盐加速醋酸盐雾试验CASS试验/铜加速醋酸盐雾试验CASS/酸性盐雾试验/醋酸盐雾试验ASS、霉菌试验(防霉试验、长霉试验)、大气腐蚀试验(气体腐蚀试验)：二氧化硫气体腐蚀试验(SO2)、硫化氢气体腐蚀试验(H2S)、丝状腐蚀试验/循环腐蚀试验；1.4其它：防尘防水(IP防护等级、IP等级、IP代码、外壳防护等级)、沙尘试验(扬尘试验、防尘试验)、浸水试验(防水试验)、淋雨试验、砂尘试验、冻雨试验、老化试验、低气压试验(低压试验、高度试验、高空试验、快速减压试验、快速气压变化)、爆炸性减压(快速减压、迅速减压)、高气压试验(过压试验、正压试验)、太阳辐照(太阳辐射、阳光辐射、日照试验、日照辐射、人工加速光老化试验、氙灯光老化试验)、风压试验(风载荷)、热真空试验、爆炸性大气、噪声试验等。2.机械环境试验(动力学环境试验)(GB2423，GJB150，RTCA/Do160E,Mil-Std-810F)2.1振动试验：正弦振动、随机振动、复合振动、扫描振动、定频振动、飞机炮振试验(炮击振动试验)；2.2其它：冲击试验(高g值冲击如30000g、舰船冲击试验)、地震试验(地震模拟试验)、碰撞试验、跌落试验、包装运输、拉伸试验、倾斜摇摆、离心试验(恒定加速度试验)、颠振试验等。3.综合环境试验(GB2423，GJB150,Mil-Std-810F)3.1温度高度试验、温度湿度高度试验、湿度高度试验、低温低气压试验；3.2温度湿度试验、温度湿度振动试验、温度振动试验；3.3振动噪声试验(声振联合试验、振声试验)网址：http://www.test114.com.cn(可靠性检测网)实验室热点检测实验项目：高低温，IP防护等级，振动冲击，军民品电磁兼容,环境适应性试验二、各试验项目的标准及最大试验能力1低气压试验(低气压实验)(最大体积：150立方，12*3.5*3.5m)GB/T2423.21-91电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GJB150.2-86军用设备环境试验方法低气压(高度)试验MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法105低气压试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法2低温试验(最大体积：80立方，14*2.5*2.5m)GJB150.4-86《军用设备环境试验方法低温试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB4.3-83《舰船电子设备环境试验低温试验》GJB4.4-83《舰船电子设备环境试验低温贮存试验》GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.27低温试验GB/T2423.1-2001《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温》SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.4低温负荷试验SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.5低温贮存试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法3高温试验(最大体积：80立方，14*2.5*2.5m)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GJB150.3-86《军用设备环境试验方法高温试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB4.2-83《舰船电子设备环境试验高温试验》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法108高温寿命试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.28高温试验GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GB/T2423.2-2001《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温》SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.1高温负荷试验SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.2高温贮存试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法4湿热试验(最大体积：80立方，14*2.5*2.5m)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GJB150.9-86《军用设备环境试验方法湿热试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB4.5-83《舰船电子设备环境试验恒定湿热试验》GJB4.6-83《舰船电子设备环境试验交变湿热试验》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法103稳态湿热试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法106耐湿试验GJB367A－2001《军用通信设备通用规范》4.7.29湿热GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GB/T2423.3-2006《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验》GB/T2423.4-93《电工电子产品基本环境试验规程试验Db：交变湿热试验方法》GB/T2423.9-2001电工电子产品环境试验试验Cb：设备用恒定湿热GB/T2423.34-2005《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验》SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.3恒定湿热试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法联系人电话：13691093503座机：010-63469388邮箱：test0718@126.com5冲击试验(最大加速度：30000g)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GJB150.18-86《军用设备环境试验方法冲击试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB4.8-83《舰船电子设备环境试验颠震试验》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法213冲击(规定脉冲)试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.39冲击和4.7.42颠震GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GB/T2423.5-1995《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击》GB/T2423.6-1995《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞》SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.2碰撞试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法6碰撞试验GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞GJB4.8-83舰船电子设备环境试验颠振试验RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法7运输试验QJ/T815.2-1994航天工业行业标准产品公路运输加速模拟试验方法8恒定加速度试验(离心试验)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GB/T2423.15-1995电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ga和导则:稳态加速度GJB150.15-1986军用设备环境试验方法加速度试验MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法212稳态加速度试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法9跌落试验SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.3自由跌落试验GB/T2423.8-1995《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ed：自由跌落》方法一：自由跌落10振动试验(最大推力：30t；最大承载：20t)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GJB150.16-86《军用设备环境试验方法振动试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法214随机振动试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GJB367A-2001《军用通信设备通用规范》4.7.38振动GJB4.7-83《舰船电子设备环境试验振动试验》GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GB/T2423.10-1995《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动(正弦)》GB/T2423.11-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法：试验Fd：宽频带随机振动-一般要求GB/T2423.12-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fda：宽频带随机振动--高再现性GB/T2423.13-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fdb：宽频带随机振动--中再现性GB/T2423.14-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fdc：宽频带随机振动--低再现性SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》5.1扫频振动(正弦)试验GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法11温度冲击GJB150.5-86《军用设备环境试验方法温度冲击试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GJB360A-96电子及电气元件试验方法MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GB/T2423.22-2002《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法12温度变化SJ/T10325-92《汽车收放机环境试验要求和试验方法》4.6温度变化试验GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验N：温度变化GJB150.5-86军用设备环境试验方法温度冲击试验GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法107温度冲击试验GJB1032-90电子产品环境应力筛选方法RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法13盐雾试验(最大2立方)GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》GJB150.11-86《军用设备环境试验方法盐雾试验》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GJB4.11-83《舰船电子设备环境试验盐雾试验》GJB548A-96《微电子器件试验方法和程序》MIL-STD-883D《微电子器件试验方法和程序》GB/T2423.17-93《电工电子产品基本环境试验规程试验Ka：盐雾试验方法》GB/T2423.18-2000《电工电子产品环境试验第2部分：试验试验Kb：盐雾，交变(氯化钠溶液)GJB360A-96电子及电气元件试验方法方法101盐雾试验MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法14霉菌试验(长霉试验)GB/T2423.16-1999电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验J和导则：长霉GJB4.10-83舰船电子设备环境试验霉菌试验GJB150.10-86军用设备环境试验方法霉菌试验MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法15温度/振动综合试验GB/T2423.35-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验方法GB/T2423.36-2005电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/振动(正弦)综合试验方法16温度/低气压(高度)综合试验(最大体积：26立方，285021904000)GB/T2423.25-1992电工电子产品基本环境试验试验Z/AM：低温/低气压综合试验GB/T2423.26-1992电工电子产品基本环境试验试验Z/BM：高温/低气压综合试验GJB150.6-86军用设备环境试验方法温度－高度试验17低温/低气压(最大体积：26立方，285021904000)GB/T2423.25-1992电工电子产品基本环境试验试验Z/AM：低温/低气压综合试验18高温高气压(最大体积：26立方，285021904000)GB/T2423.26-1992电工电子产品基本环境试验试验Z/BM：高温/低气压综合试验19温度/湿度GB/T242320可靠性试验GJB899-90《可靠性鉴定和验收试验》MIL-STD-781D-86装电字[2002]110号《海军电子装备可靠性鉴定试验实施方法》GB/T12165-1998《盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法》GJB1407-92可靠性增长试验GB5080.7-1986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案21环境应力筛选GJB899-90《可靠性鉴定和验收试验》MIL-STD-2164-85装电字[2002]110号《海军电子装备可靠性鉴定试验实施方法》GB/T12165-1998《盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法》22二氧化硫GB/T242323硫化氢GB/T242324高压蒸煮GB/T242325太阳辐射(最大体积：)GJB150-86《军用设备环境试验方法》MIL-STD-810F《环境工程考虑与实验室试验》GJB367.2-87《军用通信设备通用技术条件》GB/T2423-1995电子电工产品环境试验第二部分:试验方法试验Sa:模拟地面上的太阳辐射GB/T16422.2-99《塑料实验室光源暴露试验方法第二部分：氙弧灯》GB/T14522-93《机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料人工气候加速试验方法》ISO4892-1994《塑料实验室光源暴露试验方法第二部分:氙弧灯26防尘防水(外壳防护等级、IP等级、IP代码、IP防护等级)GB4208-93《外壳防护等级(IP标志)》IEC529-1989《外壳防护等级(IP标志)》27砂尘试验(沙尘施压)(最大尺寸：)GB/T2423MIL-STD-202F《电子及电气元件试验方法》GB4208-93《外壳防护等级(IP标志)》IEC529-1989《外壳防护等级(IP标志)》RTCA/DO-160E机载设备环境条件和试验方法28防水试验、浸水试验GB/T2423GB/T13543-92《数字通信设备环境试验方法》GB4208-93《外壳防护等级(IP标志)